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            • WYJ-4XDIC科研级微分干涉显微镜

              科研级微分干涉显微镜WYJ-4XDIC适用于金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究,或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。总放大倍数:50-800X

              型号:WYJ-4XDIC
              更新日期:2021-08-15
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            • WYJ-52DIC科研级微分干涉显微镜

              科研级微分干涉显微镜WYJ-52DIC采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念,带有偏光装置、微分干涉装置,可实现偏光观察、微分干涉观察等功能。

              型号:WYJ-52DIC
              更新日期:2021-01-27
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